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日置RM3545A電(diàn)阻计在多(duō)路電(diàn)阻测试方案应用(yòng)

发布日期:2024-05-21     作者: 安泰测试     浏览数:   

  近日客户联系到我们说是需要进行多(duō)路的電(diàn)阻测试,并且还需要同时进行温度数据的采集,明确客户需求以后,我们迅速给出了测试方案,并且携带样机到客户现场进行实际测试,顺利完成的测试,客户很(hěn)少满意。

  在本次测试当中我们选用(yòng)了日置的電(diàn)阻计RM3545A。

日置RM3545A電(diàn)阻计在多(duō)路電(diàn)阻测试方案应用(yòng)(图1)

  在开发電(diàn)池、電(diàn)机、電(diàn)子零件等研发过程中精确测量低電(diàn)阻值

  最新(xīn)配备1000µΩ量程,最小(xiǎo)分(fēn)辨率1 nΩ。基本精度0.006%,最大测量電(diàn)流1A。

  通过将其集成到生产線(xiàn)中,可(kě)以实现与开发时相同的测量精度

  最多(duō)132个通道(4端子法)(与扫描模块机架SW1002组合使用(yòng)时)

  最多(duō)支持20个通道(4端子法)(安装两个Z3003多(duō)路转换器单元时。仅限RM3545A-2)

  在低電(diàn)阻测试量程内,测量速度最快21 ms

  主机可(kě)以配备两个Z3003多(duō)路转换器,最高可(kě)以完成20路的4端法電(diàn)阻测试。

日置RM3545A電(diàn)阻计在多(duō)路電(diàn)阻测试方案应用(yòng)(图2)

Z3003多(duō)路转换器

  并且主机可(kě)以搭配温度探头Z2001进行温度数据的采集,可(kě)测试温度范围-10.0℃~99.9℃

日置RM3545A電(diàn)阻计在多(duō)路電(diàn)阻测试方案应用(yòng)(图3)

Z2001温度探头


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