源表和静電(diàn)计如何选择

　　无论做纳米发電(diàn)机还是测试硅片材料,无疑会用(yòng)到源表或者静電(diàn)计,很(hěn)多(duō)人不知道该选源表还是静電(diàn)计,今天来跟大家分(fēn)享一下,怎么选择最合适的仪器。

　　首先来说一下他(tā)们的功能(néng),确认一下哪种仪器的功能(néng)能(néng)满足需要。

　　静電(diàn)计可(kě)以测试電(diàn)压電(diàn)流電(diàn)阻和電(diàn)荷,并且输出最高±1000V的電(diàn)压。他(tā)只能(néng)实现单通道测量。

　　源表可(kě)以输出電(diàn)压或電(diàn)流,同时可(kě)以测试電(diàn)压,電(diàn)流,電(diàn)阻和功率。

　　两者对比,静電(diàn)计多(duō)一个测量電(diàn)荷的功能(néng),源表多(duō)了一个電(diàn)流输出的功能(néng)。

　　如果单纯的只需要测试電(diàn)压,電(diàn)流,電(diàn)阻,或者输出電(diàn)压测试電(diàn)流,那么这两者都可(kě)以满足。就要看被测件的参数了。

　　静電(diàn)计一般称為(wèi)飞安表,可(kě)以测量到飞安级别的電(diàn)流,源表测量到nA左右,如果被测電(diàn)流是皮安或者飞安,建议用(yòng)静電(diàn)计,如果是大于nA,那么两种仪器都能(néng)用(yòng)。

　　不过静電(diàn)计有(yǒu)个特殊的功能(néng),在做纳米发電(diàn)机等应用(yòng)的时候有(yǒu)很(hěn)重要。源表的采样率只有(yǒu)几kSa/S左右,被测信号变化特别快的时候,源表无法正确捕获到信号的峰值和变化趋势。静電(diàn)计本身的采样率也比较低,但是它的后面板有(yǒu)一个模拟输出接口,可(kě)以把采集到的電(diàn)压,電(diàn)流電(diàn)阻或電(diàn)荷通过模拟输出按比例转化成電(diàn)压信号输出,类似于把静電(diàn)计当作一个传感器,输出后接到万用(yòng)表或示波器上都行,这时候信号的采样率就取决于万用(yòng)表或者示波器的采样,可(kě)以实现高采样,既可(kě)以测试小(xiǎo)信号,也可(kě)以实现高采样。

　　源表也有(yǒu)它的优势,半导體(tǐ)测试,双通道源表可(kě)以实现三端器件的测量,测试半导體(tǐ)器件的转移曲線(xiàn),特性曲線(xiàn)等是非常方便的。

　　针对微弱電(diàn)流,高阻,電(diàn)荷,或者高速脉冲测量拨入纳米发電(diàn)机类的实验,选择静電(diàn)计更合适,而半导體(tǐ)器件,三端口器件等,IV曲線(xiàn)测试用(yòng)源表更合适。