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吉时利2400源表在PIN硅辐射探测IV曲線(xiàn)测试应用(yòng)

发布日期:2024-01-26     作者: 安泰测试     浏览数:   

  近日,有(yǒu)客户找到我们需要测PIN的IV特性,客户反馈了解过吉时利2400系列源表测试会出现屏幕无法显示曲線(xiàn)问题,了解客户需求后,為(wèi)了更好的完成测试,我们及时做出了一套测试方案,去客户现场进行测试,接下来為(wèi)大家分(fēn)享PIN硅辐射探测IV曲線(xiàn)的测试案例!

  PIN硅辐射探测器是一种用(yòng)于探测辐射的半导體(tǐ)探测器,它通常由P型硅、I型硅和N型硅层组成。PIN探测器具有(yǒu)高能(néng)分(fēn)辨率和高探测效率的特点,因此在核物(wù)理(lǐ)实验、医學(xué)成像和辐射监测等领域得到广泛应用(yòng)。

  PIN硅辐射探测器的工作原理(lǐ)是通过辐射粒子在探测器中产生的電(diàn)子空穿和電(diàn)子空穴引起的電(diàn)荷移动来测量辐射能(néng)量。当辐射粒子进入探测器时,它会与硅晶格中的原子发生相互作用(yòng),产生電(diàn)子空穿和電(diàn)子空穴。这些電(diàn)荷在電(diàn)场的作用(yòng)下被分(fēn)离并收集到探测器的電(diàn)极上,产生一个電(diàn)荷脉冲信号。通过测量这个信号的幅度和时间分(fēn)布,可(kě)以确定辐射粒子的能(néng)量和入射位置。

吉时利2400源表在PIN硅辐射探测IV曲線(xiàn)测试应用(yòng)(图1)

  為(wèi)了确定PIN硅辐射探测器的性能(néng),我们首先使用(yòng)的是吉时利2400源表+kickstart上位机软件进行测试,在测试PIN的IV曲線(xiàn)时,需要将样品放在不透光的环境中,所以在测试时,我们将样品放在了一个密闭的盒子,一键测试就可(kě)完成。

  吉时利2400源表+kickstart上位机软件

  测试中可(kě)看到我们采用(yòng)的是吉时利2400源表+kickstart上位机软件可(kě)顺利完成测试。

吉时利2400源表在PIN硅辐射探测IV曲線(xiàn)测试应用(yòng)(图2)

  此次测试我们更推荐使用(yòng)2450源表进行测试,新(xīn)款2400系列图形化系列源表在外观上可(kě)直接看出较大的區(qū)别,它可(kě)实现触屏操作,操作更加简单,在源表屏幕上可(kě)以直接显示IV曲線(xiàn),不需要上位机就可(kě)直观看到测试结果,操作简单,测试便捷,所以我们更推荐2450系列源表。

吉时利2400源表在PIN硅辐射探测IV曲線(xiàn)测试应用(yòng)(图3)

  以上是安泰测试為(wèi)大家分(fēn)享的关于PIN硅辐射探测IV曲線(xiàn)测试方案。安泰测试作為(wèi)泰克吉时利产品的長(cháng)期合作伙伴,专业提供设备选型和测试方案的提供,并获得客户的高度认可(kě),如您想了解吉时利源表更多(duō)产品应用(yòng),欢迎关注西安安泰测试。

  安泰测试-中國(guó)十大测试仪器综合服務(wù)商(shāng),是國(guó)内专业测试仪器服務(wù)平台,為(wèi)客户提供丰富的测试产品选择、完整的系统测试解决方案、全面的技术支持和售后服務(wù),帮助客户更好的解决测试问题。


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