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同惠TH2851在薄膜介電(diàn)常数测试方案

发布日期:2024-04-29     作者: 安泰测试     浏览数:   

  在材料的介電(diàn)常数测试中低频测试,网络分(fēn)析仪的测试方法很(hěn)难达到更低的频率,一般网络分(fēn)析仪测试介電(diàn)常数的方式最低只能(néng)测到100MHz,如果我们想知道低频的介電(diàn)常数就没有(yǒu)办法,而且网络分(fēn)析仪测试时成本非常高,夹具尤其贵。

  今天给大家介绍另一种仪器测试介電(diàn)常数的仪器,就是阻抗分(fēn)析仪,阻抗分(fēn)析仪最低频可(kě)以测到20Hz甚至更低,本套方案需要使用(yòng)同惠阻抗分(fēn)析仪TH2851以及TH26077夹具进行测试。

  阻抗分(fēn)析仪测试介電(diàn)常数方法為(wèi)平行板测试法

同惠TH2851在薄膜介電(diàn)常数测试方案(图1)

  使用(yòng)此方法可(kě)以直接在夹具上读出材料厚度,此夹具可(kě)以测试的参数有(yǒu)電(diàn)容(C)、耗损因数(D)、介電(diàn)常数(εr',εr'')

  测试原理(lǐ)如下:

同惠TH2851在薄膜介電(diàn)常数测试方案(图2)

  介電(diàn)常数公式

同惠TH2851在薄膜介電(diàn)常数测试方案(图3)

  介電(diàn)常数分(fēn)析软件

  该软件為(wèi)选件,开通后在TH2851界面直接选择对应的参数即可(kě),分(fēn)别可(kě)以单测、列表扫描、曲線(xiàn)扫描,下图為(wèi)曲線(xiàn)扫描界面。

同惠TH2851在薄膜介電(diàn)常数测试方案(图4)


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