搭建一个半导體(tǐ)实验室需要什么设备

　　半导體(tǐ)测试包括前期的研发，后期的生产的测试。

　　前期研发，进行材料测试，晶圆测试，后期的器件测试等。

　　材料测试常用(yòng)的是LCR数字電(diàn)桥，阻抗分(fēn)析仪，网络分(fēn)析仪，電(diàn)源，万用(yòng)表，源表，静電(diàn)计，半导體(tǐ)参数分(fēn)析仪，探针台，信号发生器，功率放大器，示波器等等。

　　比如测试薄膜等材料，需要测试阻抗，容值等，根据频率需要用(yòng)到数字電(diàn)桥或者阻抗分(fēn)析仪，或者测试介電(diàn)常数，用(yòng)到阻抗分(fēn)析仪或者网络分(fēn)析仪。

　　数字電(diàn)桥的频率一般是几Hz~几MHz，阻抗分(fēn)析仪是几MHz~3GHz，网络分(fēn)析仪可(kě)以测试大于3GHz的介電(diàn)常数。根据测试频率选择合适的仪器。

　　除了介電(diàn)常数之外，还需要测试IV曲線(xiàn)等，可(kě)以用(yòng)源表测试。

　　测试小(xiǎo)于nA级别的電(diàn)流，需要用(yòng)到静電(diàn)计,万用(yòng)表等。

　　需要测试多(duō)端器件，可(kě)以用(yòng)双通道源表或者半导體(tǐ)参数分(fēn)析仪。

　　两端器件或者三端器件可(kě)以用(yòng)双通道源表测试，比如二极管，三极管等。三端以上器件，就需要用(yòng)到半导體(tǐ)参数分(fēn)析仪了，比如吉时利4200A，或者是德科(kē)技B1500A。

　　配合探针台可(kě)以实现多(duō)端器件的测试。

　　封装好的半导體(tǐ)器件，需要供電(diàn)，还要用(yòng)到電(diàn)源，或者信号发生器和功率放大器。

　　测试产生的波形会用(yòng)到示波器，比如测试三极管的放大倍数的时候等，只要观察波形，都需要示波器。

　　半导體(tǐ)测试从前到后需要进行非常多(duō)的测试项目，所用(yòng)到的仪器也非常多(duō)，以上只是一部分(fēn)，供大家参考。